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Stress-induced oxide leakage
IEEE electron device letters, 1991-11, Vol.12 (11), p.632-634
1991
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Effect of hot-carrier injection on n- and pMOSFET gate oxide integrity
IEEE electron device letters, 1991-11, Vol.12 (11), p.599-601
1991
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Photoelectric measurement and study of diamondlike carbon thin films
Journal of electronic materials, 1992-01, Vol.21 (1), p.115-117
1992
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Photoelectric measurement and study of diamond-like carbon thin films
Journal of electronic materials, 1992, Vol.21 (1), p.115-117
1992
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Elimination of stress induced oxide leakage in textured tunneling oxide
Solid-state electronics, 1992, Vol.35 (12), p.1843-1844
1992
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