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Proceedings., International Test Conference, 1994, p.413-425
1994
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Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, p.194-203
1998
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2009 31st EOS/ESD Symposium, 2009, p.1-10
2009
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Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.259-268
1996
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2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2007, p.3A.3-1-3A.3-10
2007
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Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC), 1995, p.916
1995
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.329-332
2008
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Proceedings International Test Conference 1997, 1997, p.32-39
1997
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Proceedings of IEEE International Test Conference - (ITC), 1993, p.642-651
1993
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