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2023
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Microelectronics and reliability, 2021-06, Vol.121, p.114133, Article 114133
2021
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Constructive Side-Channel Analysis and Secure Design, p.42-61
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2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023, p.1-6
2023
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Smart Card Research and Advanced Applications, p.45-65
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Secure IT Systems, p.221-237
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Smart Card Research and Advanced Applications, p.256-276
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2023 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2023, p.1-2
2023
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2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.91-96
2021
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Smart Card Research and Advanced Applications, p.189-209
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2011 IEEE International Solid-State Circuits Conference, 2011, p.274-276
2011
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2023 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST), 2023, p.100-110
2023
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Risks and Security of Internet and Systems, p.185-198
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2019 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2019, p.1-8
2019
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2023 Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2023, p.1-12
2023
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2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2022, p.1-5
2022
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2023 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST), 2023, p.89-99
2023
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2020 Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2020, p.41-48
2020
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Microprocessors and microsystems, 2023-11, Vol.103
2023
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International Journal of Intelligent Engineering Informatics, 2011-01, Vol.1 (3/4), p.328
2011
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Laser-induced Single-bit Faults in Flash Memory: Instructions Corruption on a 32-bit Microcontroller
2019
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2021 IEEE 7th World Forum on Internet of Things (WF-IoT), 2021, p.610-615
2021
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Security, Privacy, and Applied Cryptography Engineering, p.138-156
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2020 15th Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2020, p.1-7
2020
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2022 25th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2022, p.456-463
2022
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