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2020
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2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2020, p.1-5
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2019-12, Vol.66 (12), p.5399-5403
2019
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Ceramics international, 2021-04, Vol.47 (7), p.9643-9650
2021
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
2021
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Electronics (Basel), 2020-08, Vol.9 (8), p.1283
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
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2019 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2019, p.1-5
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
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2018 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2018, p.217-218
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2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020, p.1-4
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.9.3.1-9.3.4
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2010 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2010, p.79-82
2010
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1998
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MRS proceedings, 1998, Vol.514
1998
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2020-06, Vol.20 (2), p.286-292
2020
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