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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2006-10, Vol.25 (10), p.2181-2192
2006
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2008-02, Vol.27 (2), p.327-338
2008
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VLSI Design, 2014-01, Vol.2014 (2014), p.65-72
2014
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VLSI Design, 2014-01, Vol.2014 (2014), p.56-64
2014
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Journal of circuits, systems, and computers, 2003-04, Vol.12 (2), p.143-158
2003
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Proceedings - International Test Conference, 2000, p.854-862
2000
Volltextzugriff (PDF)


Journal of electronic testing, 2007-12, Vol.23 (6), p.497-512
2007
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1992-11, Vol.11 (11), p.1450-1458
1992
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Proceedings Design, Automation and Test in Europe. Conference and Exhibition 2001, 2001, p.590-595
2001
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Field-Programmable Logic and Applications: The Roadmap to Reconfigurable Computing, 2000, p.300-311
2000
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Journal of electronic testing, 1999, Vol.14 (1-2), p.13
1999
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Keynote Speech 2
2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, 2009, p.xiii-xv
2009
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22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.154-159
2004
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Proceedings. 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.97TB100125), 1997, p.230-237
1997
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IET computers & digital techniques, 2007-05, Vol.1 (3), p.146-153
2007
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Microelectronic engineering, 2004-04, Vol.72 (1), p.140-148
2004
Volltextzugriff (PDF)

Journal of electronic testing, 2003-08, Vol.19 (4), p.377-386
2003
Volltextzugriff (PDF)

22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.171-178
2004
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Journal of electronic testing, 2001-04, Vol.17 (2), p.139
2001
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