Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
On-Chip Combined C-V/I-V Characterization System in 45-nm CMOS Technology
IEEE journal of solid-state circuits, 2013-03, Vol.48 (3), p.814-826
2013
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Combined C-V/I-V front-end-of-line measurement
2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2012, p.241-244
2012
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Random telegraph noise in 45-nm CMOS: Analysis using an on-chip test and measurement system
2010 International Electron Devices Meeting, 2010, p.28.2.1-28.2.4
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
On-chip combined C-V/I-V transistor characterization system in 45-nm CMOS
2011 Symposium on VLSI Circuits - Digest of Technical Papers, 2011, p.218-219
2011
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
On-chip transistor characterization arrays with digital interfaces for variability characterization
2009 10th International Symposium on Quality Electronic Design, 2009, p.167-171
2009
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A 100 fps, Time-Correlated Single-Photon-Counting-Based Fluorescence-Lifetime Imager in 130 nm CMOS
IEEE journal of solid-state circuits, 2014-04, Vol.49 (4), p.867-880
2014
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Analysis of Random Telegraph Noise in 45-nm CMOS Using On-Chip Characterization System
IEEE transactions on electron devices, 2013-05, Vol.60 (5), p.1716-1722
2013
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
25.7 Time-Borrowing Fast Mux-D Scan Flip-Flop with On-Chip Timing/Power/VMIN Characterization Circuits in 10nm CMOS
2020 IEEE International Solid- State Circuits Conference - (ISSCC), 2020, p.392-394
2020
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Combined C-V/I-V and RTN CMOS Variability Characterization Using An On-Chip Measurement System
2012
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Low-Clock-Power Digital Standard Cell IPs for High-Performance Graphics/AI Processors in 10nm CMOS
2020 IEEE Symposium on VLSI Circuits, 2020, p.1-2
2020
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Design-Technology Co-Optimization of Standard Cell Libraries on Intel 10nm Process
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.28.2.1-28.2.4
2018
Volltextzugriff (PDF)
1 – 11 von 11
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen