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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-10
2007
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ACM transactions on embedded computing systems, 2004-08, Vol.3 (3), p.461-491
2004
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-11, Vol.16 (11), p.1441-1453
2008
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 41st annual conference on Design automation, 2004, p.753-760
2004
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2007-03, Vol.26 (3), p.542-552
2007
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ACM transactions on embedded computing systems, 2007-12, Vol.7 (1), p.1-26
2007
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Design, Automation and Test in Europe, 2005, p.178-183
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Journal of low-power electronics, 2011-12, Vol.7 (4), p.502-515
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2007-05, Vol.15 (5), p.546-559
2007
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2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference, 2006, p.393-398
2006
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2017 IEEE International Test Conference (ITC), 2017, p.1-10
2017
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2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007, p.1-6
2007
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 42nd annual conference on Design automation; 13-17 June 2005, 2005, p.700-705
2005
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ACM transactions on design automation of electronic systems, 2014-08, Vol.19 (4), p.1-27
2014
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Digest of technical papers - IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design, 2002, p.641-648
2002
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2011 Asian Test Symposium, 2011, p.xv-xv
2011
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