Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2020-10, Vol.39 (10), p.2952-2963
2020
Volltextzugriff (PDF)
2016 IEEE International Test Conference (ITC), 2016, p.1-9
2016
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2021-09, Vol.124, p.114261, Article 114261
2021
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2023-11, Vol.42 (11), p.1-1
2023
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023, p.1-7
2023
Volltextzugriff (PDF)
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2022-06, Vol.21 (1015), p.1015
2022
Volltextzugriff (PDF)
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2017, Vol.16 (Special Issue 1), p.1015
2017
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.539-543
2022
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-5
2020
Volltextzugriff (PDF)
2012 IEEE International Test Conference, 2012, p.1-6
2012
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.382-390
2022
Volltextzugriff (PDF)
2019 IEEE International Test Conference (ITC), 2019, p.1-8
2019
Volltextzugriff (PDF)
2016 21th IEEE European Test Symposium (ETS), 2016, p.1-6
2016
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on nuclear science, 2006-08, Vol.53 (4), p.2069-2075
2006
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 2020, p.1-8
2020
Volltextzugriff (PDF)
Embedded and Ubiquitous Computing – EUC 2005, 2005, p.1085-1098
2005
Volltextzugriff (PDF)
2016 11th European Workshop on Microelectronics Education (EWME), 2016, p.1-3
2016
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2023, p.1-7
2023
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE European Test Symposium (ETS), 2020, p.1-6
2020
Volltextzugriff (PDF)
2019 IEEE European Test Symposium (ETS), 2019, p.1-7
2019
Volltextzugriff (PDF)
2024 IEEE European Test Symposium (ETS), 2024, p.1-1
2024
Volltextzugriff (PDF)
2019 IEEE European Test Symposium (ETS), 2019, p.1-2
2019
Volltextzugriff (PDF)
2009 International Test Conference, 2009, p.1-1
2009
Volltextzugriff (PDF)
2010 IEEE International Test Conference, 2010, p.1-1
2010
Volltextzugriff (PDF)
2013 11th International Symposium and Workshops on Modeling and Optimization in Mobile, Ad Hoc and Wireless Networks (WiOpt), 2013, p.62-67
2013
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Computer Science
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Engineering Sciences
- Micro And Nanotechnologies
- Microelectronics
- Hardware
- Computer Science, Theory & Methods
- Registers
- Circuit Faults
- Ieee 1687
- Instruments
- Testing
- Computer Science, Software Engineering
- Fault Tolerance
- Ijtag
- Microprocessors
Kollektion
Zeitschrift / Serie
- Ieee Design And Test
- European Heart Journal Supplements
- Ieee Transactions On Computer-Aided Design Of Integrated Circuits And Systems
- Journal Sur L'enseignement Des Sciences Et Technologies De L'information Et Des Systèmes
- Heart
- Ieee Design & Test
- Ieee Design & Test Of Computers
- Ieee Transactions On Nuclear Science
- Microelectronics And Reliability
- Microelectronics Reliability/microelectronics And Reliability