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A comparison of different methods for x-ray diffraction line broadening analysis of Ti and Ag UHV deposited thin films: nanostructural dependence on substrate temperature and film thickness
Journal of physics. D, Applied physics, 2006-05, Vol.39 (10), p.2231-2247
2006
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Simultaneous in-line and off-axis subsea holographic recording of plankton and other marine particles
Measurement science & technology, 2001-08, Vol.12 (8), p.L9-L15
2001
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Nano-structural characteristics of Ti/glass and Ti/Mo films as a function of deposition rate and angle of incidence
Thin solid films, 2006-10, Vol.515 (2), p.439-443
2006
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Low-temperature SEM imaging of polymer structure in engineered and natural sediments and the implications regarding stability
Geoderma, 2006-09, Vol.134 (1), p.48-55
2006
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Advection-diffusion model for the stagnation of normal grain growth in thin films
Journal of physics. D, Applied physics, 2002-07, Vol.35 (14), p.1805-1811, Article 323
2002
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Underwater digital holography for studies of marine plankton
Philosophical transactions of the Royal Society of London. Series A: Mathematical, physical, and engineering sciences, 2008-05, Vol.366 (1871), p.1789-1806
2008
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Phase step measurement and variable step algorithms in phase-shifting interferometry
Measurement science & technology, 1992-10, Vol.3 (10), p.953-958
1992
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Phase-step insensitive algorithms for phase-shifting interferometry
Measurement science & technology, 1994-06, Vol.5 (6), p.648-654
1994
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Advection-diffusion model for normal grain growth
Journal of physics. D, Applied physics, 2001-05, Vol.34 (9), p.1286-1292, Article 1286
2001
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A low-cost electrically programmable logic device controlled Mössbauer spectrometer
Measurement science & technology, 2001-01, Vol.12 (1), p.N1-N5
2001
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Importance of rotational beam alignment in the generation of second harmonic errors in laser heterodyne interferometry
Measurement science & technology, 1993-10, Vol.4 (10), p.1173-1176
1993
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Preferred orientations of evaporated Ni films on Mo and SiO2 substrates
Vacuum, 1998-04, Vol.49 (4), p.257-263
1998
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  • BibTeX
An `advection - diffusion' model for grain growth
Journal of physics. D, Applied physics, 1997-02, Vol.30 (3), p.468-474
1997
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A fast resistance measurement system for impedance tomography using a bipolar DC pulse method
Measurement science & technology, 2001-08, Vol.12 (8), p.1002-1011, Article 1002
2001
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Influence of deposition conditions and of substrate on the structure of uhv deposited erbium films
Vacuum, 1995, Vol.46 (2), p.167-179
1995
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  • BibTeX
Truncated-Newton algorithm for three-dimensional electrical impedance tomography
Electronics letters, 1999-12, Vol.35 (25), p.2189-2191
1999
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  • BibTeX
Reduced order borehole induction modelling
International journal of computational fluid dynamics, 2014-03, Vol.28 (3-4), p.140-157
2014
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  • BibTeX
An electrical impedance tomography algorithm with well-defined spectral properties
Measurement science & technology, 1999-03, Vol.10 (3), p.L9-L14, Article L9
1999
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Differences in frequency distribution of HLA-A2 subtypes between North American and Italian white melanoma patients: relevance for epitope specific vaccination protocols
Journal of immunotherapy with emphasis on tumor immunology, 1996-09, Vol.19 (5), p.357
1996
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Polarization Effects in Heterodyne Interferometry
Journal of modern optics, 1995-09, Vol.42 (9), p.1875-1899
1995
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  • BibTeX
Extracellular polymeric substances: quantification and use in erosion experiments
Continental shelf research, 2004-10, Vol.24 (15), p.1623-1635
2004
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Material removal rate prediction for ultrasonic drilling of hard materials using an impact oscillator approach
Physics letters. A, 1999, Vol.259 (2), p.91-96
1999
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Control system analysis of a scanning tunnelling microscope
Measurement science & technology, 1993-06, Vol.4 (6), p.677-681
1993
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Mobility of tungsten clusters and microstructure of tungsten films on amorphous carbon substrates
Nanotechnology, 1994-01, Vol.5 (1), p.44-56
1994
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Texture determination by energy-dispersive XRD
Physica. B, Condensed matter, 1998-06, Vol.248 (1), p.405-410
1998
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