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A Deeper Understanding of Well Charging Reliability with Circuit Relevant Test Structures
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.P45-1-P45-4
2022
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A Study of unique galvanic failure due to interaction with well structure
2015 IEEE 22nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2015, p.39-40
2015
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