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2017
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2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, p.77-82
2017
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2020 IEEE International Test Conference (ITC), 2020, p.1-5
2020
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2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), 2016, p.185-190
2016
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2018 23rd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), 2018, p.233-238
2018
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2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2018, p.79-84
2018
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2014 9th International Design and Test Symposium (IDT), 2014, p.106-111
2014
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