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Enhanced Carrier Injection Across S/D Contacts in Selenium Based TMD FETs Using KI & Metal Induced Gap-States Engineering
IEEE journal of the Electron Devices Society, 2024-01, Vol.12, p.1-1
2024
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An efficient technique for image compression and quality retrieval using matrix completion
Journal of King Saud University. Computer and information sciences, 2022-04, Vol.34 (4), p.1231-1239
2022
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Origin of electrically induced defects in monolayer MoS2 grown by chemical vapor deposition
Communications materials, 2023-12, Vol.4 (1), p.8-11, Article 8
2023
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Role of Channel Inversion in Ambient Degradation of Phosphorene FETs
IEEE transactions on electron devices, 2022-06, Vol.69 (6), p.3353-3358
2022
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MoS2 Field-Effect Transistor Performance Enhancement by Contact Doping and Defect Passivation via Fluorine Ions and Its Cyclic Field-Assisted Activation
ACS nano, 2024-02, Vol.18 (8), p.6215-6228
2024
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MoS 2 Field-Effect Transistor Performance Enhancement by Contact Doping and Defect Passivation via Fluorine Ions and Its Cyclic Field-Assisted Activation
ACS nano, 2024-02, Vol.18 (8), p.6215-6228
2024
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Breathing Mode’s Temperature Coefficient Estimation and Interlayer Phonon Scattering Model of Few-Layer Phosphorene
ACS omega, 2022-12, Vol.7 (48), p.43462-43467
2022
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Decoupling Current and Voltage Mediated Breakdown Mechanisms in CVD MoS2 FETs
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-7
2024
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Unveiling Field Driven Performance Unreliabilities Governed by Channel Dynamics in MoSe2 FETs
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-6
2023
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Atomic-level Insight and Quantum Chemistry of Ambient Reliability Issues of the TMDs Devices
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-6
2023
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OFF State Reliability Challenges of Monolayer WS2 FET Photodetector: Impact on the Dark and Photo-Illuminated State
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-5
2023
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Hot Carrier Dynamics and Electrical Breakdown Analysis in 2D Transition Metal Dichalcogenide FETs
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.P74.TX-1-P74.TX-4
2024
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Breakthrough Metal/Graphene Interface Phonon Engineering for Reliable Graphene Based-Heat Spreaders
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024, p.1-5
2024
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Unveiling Additional Ambient Degradation Issues of Phosphorene FETs Under Laser Exposure and Positive Gate Bias
2022 IEEE International Conference on Emerging Electronics (ICEE), 2022, p.1-4
2022
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Compression of medical image using wavelet based sparsification and coding
2017 4th International Conference on Signal Processing and Integrated Networks (SPIN), 2017, p.394-398
2017
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