Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...













Engineering failure analysis, 2022-07, Vol.137, p.106248, Article 106248
2022
Volltextzugriff (PDF)


2022 International Conference on Computation, Big-Data and Engineering (ICCBE), 2022, p.32-36
2022
Volltextzugriff (PDF)



Graded gate VDMOSFET
IEEE electron device letters, 2000-04, Vol.21 (4), p.176-178
2000
Volltextzugriff (PDF)

2016 IEEE MTT-S International Wireless Symposium (IWS), 2016, p.1-3
2016
Volltextzugriff (PDF)


12th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs. Proceedings (Cat. No.00CH37094), 2000, p.385-388
2000
Volltextzugriff (PDF)

Sheng li hsüeh pao, 1998-12, Vol.50 (6), p.643
1998
Volltextzugriff (PDF)

Sheng li hsüeh pao, 1999-02, Vol.51 (1), p.1-6
1999
Volltextzugriff (PDF)

Sheng li hsüeh pao, 1997-08, Vol.49 (4), p.427-432
1997
Volltextzugriff (PDF)