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- Hafez, W.
- Agnihotri, P.
- Asoro, M.
- Aykol, M.
- Bains, B.
- Bambery, R.
- Bapna, M.
- Barik, A.
- Chatterjee, A.
- Chiu, P.C.
- Chu, T.
- Firby, C.
- Fischer, K.
- Fradkin, M.
- Greve, H.
- Gupta, A.
- Haralson, E.
- Haran, M.
- Hicks, J.
- Illa, A.
- Jang, M.
- Klopcic, S.
- Kobrinsky, M.
- Kuns, B.
- Lai, H.-h.
- Lanni, G.
- Lee, S.-H.
- Lindert, N.
- Lo, C.-l.
- Luo, Y.
- Malyavanatham, G.
- Marinkovic, B.
- Maymon, Y.
- Nabors, M.
- Neirynck, J.
- Packan, P.
- Paliwal, A.
- Pantisano, L.
- Paulson, L.
- Penmatsa, P.
- Prasad, C.
- Puls, C.
- Rahman, T.
- Ramaswamy, R.
- Samant, S.
- Sell, B.
- Sethi, K.
- Shah, F.
- Shamanna, M.
- Shang, K.
- Li, Q.
- Sibakoti, M.
- Stoeger, J.
- Strutt, N.
- Thirugnanasambandam, R.
- Tsai, C.
- Wang, X.
- Wang, A.
- Wu, S.-j.
- Xu, Q.
- Zhong, X.-h.
- Natarajan, S.
2023
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2015 Symposium on VLSI Technology (VLSI Technology), 2015, p.T150-T151
2015
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2006
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Digest of Technical Papers. 2004 Symposium on VLSI Technology, 2004, 2004, p.224-225
2004
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.5D.1.1-5D.1.5
2013
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2024 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2024, p.1-2
- Hafez, W.
- Abdelkader, M.
- An, S.
- Auth, C.
- Bahr, D.
- Bambery, R.
- Beck, M.
- Bhowmick, S.
- Biggs-houck, J.
- Caselli, D.
- Chang, H.-Y.
- Chang, Y.
- Chauhan, S.
- Chikkadi, K.
- Chu, T.
- Connor, C.
- Diana, D.
- Dong, Y.
- Elfick, P.
- Elko-hansen, T.
- Gala, D.
- Geppert, C.
- Govindaraju, S.
- Grimm, W.
- Grunes, H.
- Guler, L.
- Guo, Z.
- Gupta, A.
- Havelia, S.
- Hazra, J.
- Islam, A.
- Jain, A.
- Jamil, M.
- Jang, M.
- Kabir, M.
- Kameswaran, J.
- Karl, E.
- Kelgeri, S.
- Kennedy, A.
- Kim, J.
- Kim, Y.
- Krishnan, D.
- Lee, G.
- Lee, H.-P.
- Lin, H.
- Luk, A.
- Luo, Y.
- Macfarlane, P.
- Mamun, A.
- Marla, K.
- Mckenna, E.
- Miah, A.
- Mistry, K.
- Mleczko, M.
- Moon, S.
- Nardi, D.
- Natarajan, S.
- Nolph, C.
- Nugroho, C.
- Nyhus, P.
- Oni, A.
- Packan, P.
- Paliwal, A.
- Pandey, R.
- Paredes, I.
- Park, K.
- Paulson, L.
- Pierre, A.
- Plekhanov, P.
- Prasad, C.
- Ramaswamy, R.
- Rode, J.
- Russell, R.
- Ryu, S.
- Saavedra, H.
- Salisbury, T.
- Sandford, J.
- Shah, F.
- Shang, K.
- Shekhar, P.
- Shu, A.
- Skoug, E.
- Sohn, J.
- Song, J.
- Sprinkle, M.
- Su, J.
- Tsao, R.
- Vaidya, A.
- Wallace, C.
- Wang, X.
- Wang, H.
- Ward, C.
- Wickramaratne, S.
- Wills, M.
- Wu, T.
- Xia-hua, Z.
- Xu, S.
- Yaung, J.
- Yu, Y.
- Zilm, M.
2024
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2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.6A.5.1-6A.5.7
2014
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2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.287-292
2010
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2006
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1996
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2008 IEEE International Electron Devices Meeting, 2008, p.1-4
2008
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2000 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.00CH37104), 2000, p.174-175
2000
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Applied physics letters, 1994-03, Vol.64 (10), p.1242-1244
1994
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 1990-04, Vol.56 (18), p.1787-1789
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ESSDERC '92: 22nd European Solid State Device Research conference, 1992, Vol.19 (1), p.695-698
1992
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IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004, 2004, p.755-758
2004
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MRS proceedings, 1999, Vol.568, Article 199
1999
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MRS bulletin, 2000-06, Vol.25 (6), p.18-21
2000
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IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest, 2005, p.60-63
2005
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Digest. International Electron Devices Meeting, 2002, p.113-116
2002
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International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217), 1998, p.197-200
1998
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Predictive compact modeling of NQS effects and thermal noise in 90nm mixed-signal/RF CMOS technology
2004
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International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217), 1998, p.505-508
1998
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International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 1999, p.415-418
1999
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