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2020
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IEEE transactions on electron devices, 2013-02, Vol.60 (2), p.727-732
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2008-11, Vol.55 (11), p.2968-2976
2008
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IEEE transactions on electron devices, 2011-08, Vol.58 (8), p.2326-2336
2011
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IEEE electron device letters, 2012-03, Vol.33 (3), p.318-320
2012
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IEEE transactions on electron devices, 2009-03, Vol.56 (3), p.408-419
2009
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Solid-state electronics, 2020-08, Vol.170, p.107820, Article 107820
2020
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2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), 2012, p.113-114
2012
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Semiconductor science and technology, 2020-05, Vol.35 (5), p.55023
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2011, Vol.58 (8), p.2473-2482
2011
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IEEE transactions on electron devices, 2011-08, Vol.58 (8), p.2473-2482
2011
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Solid-state electronics, 2020-01, Vol.163, p.107643, Article 107643
2020
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Solid-state electronics, 2018-07, Vol.145, p.19-28
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IEEE transactions on nuclear science, 2019-07, Vol.66 (7), p.1628-1633
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2018-01, Vol.65 (1)
2018
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IEEE transactions on electron devices, 2015-09, Vol.62 (9), p.2760-2768
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2018-01, Vol.65 (1), p.11-18
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IEEE transactions on electron devices, 2014-04, Vol.61 (4), p.1161-1167
2014
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2019 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2019, p.1-4
2019
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IEEE transactions on electron devices, 2009-03, Vol.56 (3), p.420-430
2009
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.311-314
2020
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.221-224
2020
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IEEE transactions on electron devices, 2009-06, Vol.56 (6), p.1191-1198
2009
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.289-292
2021
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.233-236
2020
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