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Microelectronics and reliability, 2002-09, Vol.42 (9), p.1439-1443
2002
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Physica. B, Condensed matter, 2001-12, Vol.308, p.13-17
2001
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Der Ophthalmologe : Zeitschrift der Deutschen Ophthalmologischen Gesellschaft, 2013-05, Vol.110 (5), p.441-446
2013
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Microelectronics and reliability, 2001-07, Vol.41 (7), p.1007-1010
2001
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Der Ophthalmologe : Zeitschrift der Deutschen Ophthalmologischen Gesellschaft, 2013-05, Vol.110 (5), p.441-446
2013
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2015 IEEE 27th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2015, p.65-68
2015
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Physica. B, Condensed matter, 2001, Vol.308-10, p.13-17
2001
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2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage, 1997, p.109-112
1997
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2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515), 2000, p.144-145
2000
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Suchttherapie, 2013-02, Vol.14 (1), p.16-21
2013
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