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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Sensors (Basel, Switzerland), 2021-05, Vol.21 (10), p.3408
2021
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IEEE access, 2019, Vol.7, p.155701-155710
2019
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2023
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2022
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Frontiers in Marine Science, 2021-11, Vol.8
2021
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2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), 2024, p.1-7
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2017 International Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2017, p.14-19
2017
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2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022, p.1-7
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2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2022, p.993-998
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IEEE journal of solid-state circuits, 2016-05, Vol.51 (5), p.1313-1324
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Journal of electronic testing, 2019-06, Vol.35 (3), p.335-347
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IEEE microwave and wireless technology letters (Print), 2024-07, Vol.34 (7), p.947-950
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Background Receiver IQ Imbalance Correction for in-Field and Post-Production Testing and Calibration
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2023
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IEEE sensors journal, 2022-11, Vol.22 (21), p.1-1
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ACM transactions on design automation of electronic systems, 2018-12, Vol.23 (6), p.1-21, Article 81
2018
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2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS), 2019, p.1-6
2019
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IEEE sensors journal, 2021-08, Vol.21 (16), p.17984-17994
2021
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ACM transactions on design automation of electronic systems, 2019-01, Vol.24 (1), p.1-27
2019
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2016-04, Vol.24 (4), p.1493-1502
2016
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26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008, p.209-214
2008
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IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2018-02, Vol.65 (2), p.818-831
2018
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2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS), 2021, p.1-7
2021
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