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Acta materialia, 2008-05, Vol.56 (9), p.2101-2109
2008
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Microelectronics and reliability, 2020-05, Vol.108, p.113628, Article 113628
2020
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2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019, p.1-6
2019
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Hyomen Kagaku, 2006/11/10, Vol.27(11), pp.636-641
2006
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Hyōmen kagaku, 2006, Vol.27 (11), p.636-641
2006
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