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2014
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Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.252-253
2014
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Journal of applied physics, 2011-09, Vol.110 (6), p.063522-063522-6
2011
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Journal of materials science, 1996-07, Vol.31 (14), p.3639-3642
1996
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Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.568-569
2010
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2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.370-373
2006
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Key engineering materials, 1997-04, Vol.132-136, p.1131-1134
1997
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2017 17th International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2017, p.34-37
2017
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2012
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Journal of materials science, 1996-01, Vol.31 (14), p.3639-3642
1996
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Journal of materials science, 1996-01, Vol.31 (14), p.3639-3642
1996
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2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
- Agnello, P.
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- Schepis, D.
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- Yu, J.
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- Van Den Nieuwenhuizen, R.
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- Tabakman, K.
- Sung, C.Y.
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- Restaino, D.
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- Ouyang, X.
- Ouyang, C.
- Ontalus, V.
- Nummy, K.
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- McKnight, A.
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- Lea, D.
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- Kim, B.
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- Holt, J.
- Hargrove, M.
- Grunow, S.
- Greco, S.
- Gates, S.
- Frye, A.
- Fisher, P.
- Domenicucci, A.
- Dimitrakopoulos, C.
- Costrini, G.
- Chou, A.
- Cheng, J.
- Butt, S.
- Black, L.
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- Gabor, A.
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- Johnson, J.
- Weybright, M.
- Waite, A.
- Nayfeh, H.M.
- Onishi, K.
- Narasimha, S.
2006
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2008 9th International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, 2008, p.41-42
2008
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1995 International Semiconductor Conference. CAS '95 Proceedings, 1995, p.305-308
1995
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1995 International Semiconductor Conference. CAS '95 Proceedings, 1995, p.175-178
1995
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