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IEEE transactions on circuits and systems. I, Regular papers, 2022-05, Vol.69 (5), p.2225-2234
2022
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Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing, 2013-04, Vol.33 (2), p.212-218
2013
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2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2018, p.343-348
2018
Volltextzugriff (PDF)

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