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Single dilution Avidity-Blocking ELISA as an alternative to the Bovine Viral Diarrhea Virus neutralization test
Journal of virological methods, 2011-08, Vol.175 (2), p.228-235
2011
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Degradation of rise time in NAND gates using 2.0 nm gate dielectrics
2005 IEEE International Integrated Reliability Workshop, 2005, p.4 pp.
2005
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Survey of oxide degradation in inverter circuits using 2.0 nm MOS devices
IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2004, 2004, p.32-36
2004
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Preliminary study of NOR digital response to single pMOSFET dielectric degradation
2006 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices, 2006. WMED '06, 2006, p.2 pp.-32
2006
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