Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
In-line defect sampling methodology in yield management: an integrated framework
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1996-11, Vol.9 (4), p.506-517
1996
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
In-line yield prediction methodologies using patterned wafer inspection information
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1998-02, Vol.11 (1), p.40-47
1998
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Guest Editorial
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1999-02, Vol.12 (1), p.1-2
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Guest Editorial
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1999-02, Vol.12 (1), p.1-2
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Fabless-foundry partnership: models and analysis of coordination issues
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1999-02, Vol.12 (1), p.44-52
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Effective defect management strategies for emerging fab needs
2001 6th International Workshop on Statistical Methodology (Cat. No.01TH8550), 2001, p.33-37
2001
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Effects of defect propagation/growth on in-line defect-based yield prediction
IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 1998-11, Vol.11 (4), p.546-551
1998
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Effects of defect propagation/growth on in-line defect based yield prediction
1997 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop ASMC 97 Proceedings, 1997, p.84-86
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Key considerations in the development of defect sampling methodologies
IEEE/SEMI 1996 Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. Theme-Innovative Approaches to Growth in the Semiconductor Industry. ASMC 96 Proceedings, 1996, p.81-85
1996
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Cost effective reticle quality management strategies in wafer fabs
10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295), 1999, p.254-258
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
How to simultaneously reduce /spl alpha/ and /spl beta/ error with SPC? A multivariate process control approach
IEEE/SEMI 1998 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (Cat. No.98CH36168), 1998, p.13-18
1998
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Critical dimension sample planning for sub-0.25 micron processes
10th Annual IEEE/SEMI. Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop. ASMC 99 Proceedings (Cat. No.99CH36295), 1999, p.139-142
1999
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Development of cost effective sampling strategy for in-line monitoring
1997 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop ASMC 97 Proceedings, 1997, p.8-12
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Fabless-foundry partnerships: research on coordination issues
1997 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop ASMC 97 Proceedings, 1997, p.386-390
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Role of in-line defect sampling methodology in yield management
Proceedings of International Symposium on Semiconductor Manufacturing, 1995, p.243-247
1995
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Development Of An Optimal Sampling Strategy For Wafer Inspection
International Symposium on Semiconductor Manufacturing, Extended Abstracts of ISSM, 1994, p.143-146
1994
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
The impact of lot-to-lot and wafer-to-wafer variations on SPC
1997 2nd International Workshop on Statistical Metrology, 1997, p.110-112
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
The impact of lot-to-lot and wafer-to-wafer variations on SPC
1997 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat. No.97CH36023), 1997, p.P69-P72
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Effects of defect propagation/growth on in-line defect based yield prediction
1997 2nd International Workshop on Statistical Metrology, 1997, p.44-47
1997
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Quality and speed trade-offs in manufacturing systems
Proceedings 1992 IEEE International Conference on Robotics and Automation, 1992, p.1145-1149 vol.2
1992
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Role of yield management in fabless-foundry partnerships
1997 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat. No.97CH36023), 1997, p.P31-P34
1997
Volltextzugriff (PDF)
1 – 21 von 21
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen