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Proceedings. 16th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.98TB100231), 1998, p.28-33
1998
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Core interconnect testing hazards
Proceedings Design, Automation and Test in Europe, 1998, p.953-954
1998
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1996 Proceedings. Eighth Annual IEEE International Conference on Innovative Systems in Silicon, 1996, p.124-132
1996
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Core interconnect testing hazards
Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 23-26 Feb. 1998, 1998, p.953-954
1998
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