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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.20.3.1-20.3.4
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.30.5.1-30.5.4
2019
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2010 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2010, p.38-42
2010
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