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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.2.3.1-2.3.4
- Naik, V. B.
- Lim, J. H.
- Lee, T. Y.
- Neo, W. P.
- Dixit, H.
- K, S.
- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zeng, D.
- Ting, J. W.
- Lee, K.
- Toh, E. H.
- Zhang, L.
- Low, R.
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- Gan, K. W.
- Hau, L. Y.
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- Pfefferling, B.
- Kallensee, O.
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- Tan, S. L.
- Seet, C. S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
- Pellerin, J.
- Chao, R.
- Kwon, J.
- Thiyagarajah, N.
- Chung, N. L.
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2019
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-4
- Lee, T. Y.
- Yamane, K.
- Hau, L. Y.
- Chao, R.
- Chung, N. L.
- Naik, V. B.
- Sivabalan, K.
- Kwon, J.
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- Toh, E. H.
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- Goh, L. C.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Tan, S. L
- Seet, C. S.
- Ting, J. W.
- Ong, S.
- You, Y. S.
- Woo, S. T.
- Quek, E.
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2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
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- Kwon, J.
- Aein, Behin
- Chung, N. L.
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- Chao, R.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Thiyagarajah, N.
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2020
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
- Lee, T. Y.
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- Neo, W. P.
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- Goh, L. C.
- Hwang, J.
- Zhang, L.
- Low, R.
- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Wong, J.
- Seet, C. S.
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2020
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
- Naik, V. B.
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- Ali, Z.
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- Chung, N. L.
- Hau, L. Y.
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- Mueller, J.
- Pfefferling, B.
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- Vogel, A.
- Merbeth, T.
- Seet, C. S.
- Wong, J.
- Bordelon, J.
- You, Y. S.
- Soss, S.
- Chan, T. H.
- Quek, E.
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2021
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.11.3.1-11.3.4
- Naik, V. B.
- Yamane, K.
- Lee, T.Y.
- Kwon, J.
- Chao, R.
- Lim, J.H.
- Chung, N.L.
- Behin-Aein, B.
- Hau, L.Y.
- Zeng, D.
- Otani, Y.
- Chiang, C.
- Huang, Y.
- Pu, L.
- Jang, S.H.
- Neo, W.P.
- Dixit, H.
- Goh, S. K L. C.
- Toh, E. H.
- Ling, T.
- Hwang, J.
- Ting, J.W.
- Low, R.
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- Balasankaran, N.
- Tan, F.
- Gan, K. W.
- Yoon, H.
- Congedo, G.
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- Merbeth, T.
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- Xu, J.
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- Woo, S.T.
- Chan, T.H.
- Quek, E.
- Siah, S. Y.
2020
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- Barnosky, Anthony D
- Hadly, Elizabeth A
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- Berlow, Eric L
- Brown, James H
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- Getz, Wayne M
- Harte, John
- Hastings, Alan
- Marquet, Pablo A
- Martinez, Neo D
- Mooers, Arne
- Roopnarine, Peter
- Vermeij, Geerat
- Williams, John W
- Gillespie, Rosemary
- Kitzes, Justin
- Marshall, Charles
- Matzke, Nicholas
- Mindell, David P
- Revilla, Eloy
- Smith, Adam B
2012
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2015
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2009
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Atherosclerosis, 2013-08, Vol.229 (2), p.423-429
2013
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International journal of epidemiology, 2014-10, Vol.43 (5), p.1401-1409
2014
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Biodiversity and conservation, 2024-07, Vol.33 (8-9), p.2527-2548
2024
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