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2019
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2020-12, Vol.54 (14), p.1850-1853
2020
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-12, Vol.52 (16), p.2135-2139
2018
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Nanotechnology, 2020-08, Vol.31 (35), p.354005-354005
2020
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Journal of physics. Conference series, 2018-03, Vol.993 (1), p.12011
2018
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Russian microelectronics, 2020, Vol.49 (3), p.166-172
2020
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-05, Vol.52 (5), p.639-644
2018
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Technical physics letters, 2020-02, Vol.46 (2), p.161-164
2020
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Computational materials science, 2023-09, Vol.228, p.112310, Article 112310
2023
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AIP conference proceedings, 2012-11, Vol.1399 (1)
2012
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2024-04, Vol.60 (2), p.220-228
2024
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2018-05, Vol.52 (5), p.639
2018
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2015, Vol.49 (1), p.60-68
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2016-09, Vol.52 (5), p.508-517
2016
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Solid state phenomena, 2009-10, Vol.156-158, p.235-240
2009
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Surface investigation, x-ray, synchrotron and neutron techniques, 2011-10, Vol.5 (5), p.870-877
2011
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Semiconductors (Woodbury, N.Y.), 2010, Vol.44 (1), p.127-132
2010
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Optoelectronics, instrumentation, and data processing, 2009-08, Vol.45 (4), p.342-347
2009
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Technical Physics Letters, 2023, Vol.49 (2), p.26
2023
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2011 International Conference and Seminar on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices Proceedings, 2011, p.111-113
2011
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Proceedings. 6th Annual. 2005 International Siberian Workshop and Tutorials on Electron Devices and Materials, 2005, 2005, p.41-44
2005
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physica status solidi (b), 2022-11, Vol.259 (11), p.n/a
2022
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Journal of physical chemistry. C, 2024-03, Vol.128 (12), p.5168-5178
2024
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Journal of applied physics, 2017-03, Vol.121 (12)
2017
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Diffusion and defect data. Solid state data. Pt. A, Defect and diffusion forum, 2018-09, Vol.386, p.21-26
2018
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