Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...





Journal of the Vacuum Society of Japan, 2011, Vol.54(4), pp.280-284
2011
Volltextzugriff (PDF)

Journal of electron microscopy, 2009-10, Vol.58 (5), p.281-287
2009
Volltextzugriff (PDF)


Journal of the Vacuum Society of Japan, 2011, Vol.54(4), pp.280-284
2011
Volltextzugriff (PDF)

2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2017, p.1-6
2017
Volltextzugriff (PDF)