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2018
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Thin solid films, 2014-05, Vol.558, p.423-429
2014
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Materials chemistry and physics, 2013-11, Vol.142 (2-3), p.608-613
2013
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Microelectronic engineering, 2013-12, Vol.112, p.46-51
2013
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Microelectronic engineering, 2013-10, Vol.110, p.6-11
2013
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Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, 2015-05, Vol.33 (3)
2015
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Electronic Materials Letters, 2012, 8(2), , pp.175-178
2012
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Applied physics. A, Materials science & processing, 2016-03, Vol.122 (3), p.1-5
2016
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Current Applied Physics, 2017, 17(10), , pp.1361-1366
2017
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Journal of nanoscience and nanotechnology, 2013-09, Vol.13 (9), p.6413-6415
2013
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2013-07, Vol.31 (4)
2013
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Applied physics. A, Materials science & processing, 2012-09, Vol.108 (3), p.679-684
2012
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Journal of the Korean Physical Society, 2014, 65(5), , pp.709-716
2014
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Effect of Al doping on resistive switching behavior of NiOx films for nonvolatile memory application
2010
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Thin solid films, 2011, Vol.519 (22), p.8119-8124
2011
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Thin solid films, 2011-09, Vol.519 (22), p.8119-8124
2011
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Current applied physics, 2011-03, Vol.11 (2), p.e70-e74
2011
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Current applied physics, 2011-03, Vol.11 (2), p.e70-e74
2011
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2011 IEEE International Interconnect Technology Conference, 2011, p.1-3
2011
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