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Hot-Carrier- and Constant-Voltage-Stress-Induced Low-Frequency Noise in Nitrided High- k Dielectric MOSFETs
IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-06, Vol.9 (2), p.203-208
2009
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Compact modeling of flicker noise variability in small size MOSFETs
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2009, p.1-4
2009
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Hot-Carrier- and Constant-Voltage-Stress-Induced Low-Frequency Noise in Nitrided High- [Formula Omitted] Dielectric MOSFETs
IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-06, Vol.9 (2), p.203
2009
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