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Semiconductor science and technology, 2015-06, Vol.30 (6), p.65013
2015
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IEEE transactions on electron devices, 2012-04, Vol.59 (4), p.1068-1075
2012




IEEE transactions on electron devices, 2012-12, Vol.59 (12), p.3651-3654
2012









2014 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2014, p.2C.3.1-2C.3.6
2014

IEEE transactions on electron devices, 2011-01, Vol.58 (1), p.107-114
2011


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