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IEEE electron device letters, 2000-06, Vol.21 (6), p.292-294
2000
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IEEE electron device letters, 2000-06, Vol.21 (6), p.292-294
2000

IEEE electron device letters, 2000-06, Vol.21 (6), p.292
2000
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2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.01TH8538), 2001, p.104-107
2001





Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2020-12, Vol.485, p.57-67
2020
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