Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...

European review for medical and pharmacological sciences, 2020-06, Vol.24 (12), p.6665
2020
Volltextzugriff (PDF)




Thin solid films, 2000-12, Vol.377, p.607-610
2000
Volltextzugriff (PDF)

Surface and interface analysis, 2011-01, Vol.43 (1-2), p.535-538
2011
Volltextzugriff (PDF)

Materials research innovations, 2015-11, Vol.19 (sup9), p.S9-263-S9-267
2015
Volltextzugriff (PDF)

Thin solid films, 2000-12, Vol.377, p.562-566
2000
Volltextzugriff (PDF)

Applied surface science, 2004-06, Vol.233 (1), p.352-359
2004
Volltextzugriff (PDF)

Wear, 1999-04, Vol.225, p.1141-1147
1999
Volltextzugriff (PDF)

Surface and interface analysis, 1999-08, Vol.28 (1), p.208-211
1999
Volltextzugriff (PDF)

Applied surface science, 2008-12, Vol.255 (4), p.1427-1429
2008
Volltextzugriff (PDF)

Applied surface science, 2008-12, Vol.255 (4), p.1437-1439
2008
Volltextzugriff (PDF)

2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2021, p.1-4
2021
Volltextzugriff (PDF)

2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023, p.1-4
2023
Volltextzugriff (PDF)

2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022, p.1-4
2022
Volltextzugriff (PDF)

2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023, p.1-6
2023
Volltextzugriff (PDF)


Surface engineering, 2000-06, Vol.16 (3), p.225-228
2000
Volltextzugriff (PDF)



2015 IEEE 22nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2015, p.340-341
2015
Volltextzugriff (PDF)

2015 IEEE 22nd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2015, p.185-188
2015
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 2001-02, Vol.98 (4), p.1649-1654
2001
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Erscheinungsjahr
n.n
n.n