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IEEE transactions on computers, 2013-12, Vol.62 (12), p.2489-2502
2013

22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), 2007, p.87-95
2007

IEEE transactions on computers, 2023-04, Vol.72 (4), p.984-997
2023
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IEEE transactions on computers, 2023-10, Vol.72 (10), p.1-14
2023

Microprocessors and microsystems, 2014-08, Vol.38 (6), p.567-580
2014
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2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016, p.1-1
2016

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2020-12, Vol.39 (12), p.4385-4398
2020

IEEE transactions on emerging topics in computing, 2022-04, Vol.10 (2), p.648-661
2022
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IEEE transactions on computers, 2011-12, Vol.60 (12), p.1744-1758
2011

IET computers & digital techniques, 2019-05, Vol.13 (3), p.127-128
2019
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2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2020, p.1331-1334
2020


Proceedings of the 23rd Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2020, p.1331-1334
2020
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-01, Vol.25 (1), p.151-164
2017

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-02, Vol.25 (2), p.427-440
2017



2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021, p.1-6
2021


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