Sortiert nach
Microelectronics and reliability, 2022-11, Vol.138, p.114678, Article 114678
2022
Link zum Volltext
Scientific reports, 2019-12, Vol.9 (1), p.19412-10, Article 19412
2019
Link zum Volltext
Scientific reports, 2020-09, Vol.10 (1), p.15281-15281, Article 15281
2020
Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2021-10, Vol.68 (10), p.4877-4884
2021
Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2021-10, Vol.68 (10), p.4885-4890
2021
Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2021-10, Vol.68 (10), p.4885-4890
2021
Link zum Volltext
IEEE transactions on electron devices, 2021-10, Vol.68 (10), p.4877-4884
2021
Link zum Volltext
IEEE transactions on nanotechnology, 2018-09, Vol.17 (5), p.867-872
2018
Link zum Volltext
Microelectronic engineering, 2012-02, Vol.90 (Feb), p.145-148
2012
Link zum Volltext
Facta universitatis. Series Electronics and energetics, 2015-03, Vol.28 (1), p.113-122
2015
Link zum Volltext
2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.ME.2.1-ME.2.5
2012
- Link zum Volltext
2017 International Semiconductor Conference (CAS), 2017, p.29-36
2017
- Link zum Volltext
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2015, p.1322-1325
2015
- Link zum Volltext
2022 52nd European Microwave Conference (EuMC), 2022, p.369-372
2022
Link zum Volltext
IEEE transactions on device and materials reliability, 2017-03, Vol.17 (1), p.138-145
2017
- Link zum Volltext
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Technology
- Physics
- Physical Sciences
- Physics, Applied
- Memristors
- Science & Technology - Other Topics
- Switches
- Temperature Dependence
- Dielectric Charging
- Dielectrics
- Electrodes
- Microelectromechanical Systems
- Micromechanical Devices
- Capacitance
- Dielectric Films
- Discharges
- Electric Fields
Kollektion