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IEEE transactions on industrial electronics (1982), 1989-05, Vol.36 (2), p.129-140
1989
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Statistical fault sampling
IEEE transactions on industrial electronics (1982), 1989-05, Vol.36 (2), p.141-150
1989
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Microprocessor testability
IEEE transactions on industrial electronics (1982), 1989-05, Vol.36 (2), p.151-163
1989
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Third Annual IEEE Proceedings on ASIC Seminar and Exhibit, 1990, p.P14/1.1-P14/1.4
1990
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