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2022
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Journal of non-crystalline solids, 2004-12, Vol.349 (Complete), p.234-241
2004
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ISRN electronics, 2013-01, Vol.2013, p.1-7
2013
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Journal of non-crystalline solids, 1989-05, Vol.109 (1), p.27-34
1989
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ISRN electronics, 2012-01, Vol.2012 (2012), p.1-10
2012
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Journal of non-crystalline solids, 1991-03, Vol.128 (1), p.48-56
1991
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ISRN electronics, 2013-05, Vol.2013, p.1-6
2013
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ISRN electronics, 2013-01, Vol.2013, p.1-7
2013
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IBM journal of research and development, 2011-05, Vol.55 (3), p.5-5:14
2011
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2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.61-67
- Filippi, R.G.
- McGrath, J.F.
- Shaw, T.M.
- Murray, C.E.
- Rathore, H.S.
- McLaughlin, P.S.
- McGahay, V.
- Nicholson, L.
- Wang, P.-C.
- Lloyd, J.R.
- Lane, M.
- Rosenberg, R.
- Liu, X.
- Wang, Y.-Y.
- Landers, W.
- Spooner, T.
- Demarest, J.J.
- Engel, B.H.
- Gill, J.
- Goth, G.
- Barth, E.
- Biery, G.
- Davis, C.R.
- Wachnik, R.A.
- Goldblatt, R.
- Ivers, T.
- Swinton, A.
- Barile, C.
- Aitken, J.
2004
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2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.3E.3.1-3E.3.5
2011
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2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.5E.1.1-5E.1.4
2012
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Journal of non-crystalline solids, 1990-08, Vol.123 (1), p.197-207
1990
Volltextzugriff (PDF)
Journal of non-crystalline solids, 1993, Vol.159 (3), p.246-252
1993
Volltextzugriff (PDF)
The Journal of chemical physics, 1992-08, Vol.97 (4), p.2609-2617
1992
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2007, p.57-60
2007
Volltextzugriff (PDF)
2006 International Interconnect Technology Conference, 2006, p.21-23
2006
Volltextzugriff (PDF)
Journal of non-crystalline solids, 1994, Vol.167 (1), p.127-138
1994
Volltextzugriff (PDF)
Journal of non-crystalline solids, 1991-01, Vol.128 (1), p.48-56
1991
Volltextzugriff (PDF)
Journal of non-crystalline solids, 1989-07, Vol.123 (1-3), p.197-207
1989
Volltextzugriff (PDF)
MRS proceedings, 1996, Vol.443, Article 183
1996
Volltextzugriff (PDF)
2007 IEEE International Interconnect Technology Conferencee, 2007, p.196-198
2007
Volltextzugriff (PDF)
2006 International Interconnect Technology Conference, 2006, p.9-11
- McGahay, V.
- Bonilla, G.
- Chen, F.
- Christiansen, C.
- Cohen, S.
- Cullinan-Scholl, M.
- Demarest, J.
- Dunn, D.
- Engel, B.
- Fitzsimmons, J.
- Gill, J.
- Grunow, S.
- Herbst, B.
- Hichri, H.
- Ida, K.
- Klymko, N.
- Kiene, M.
- Labelle, C.
- Lee, T.
- Liniger, E.
- Liu, X.H.
- Madan, A.
- Malone, K.
- Martin, J.
- McLaughlin, P.V.
- Minami, P.
- Molis, S.
- Muzzy, C.
- Nguyen, S.
- Patel, J.C.
- Restaino, D.
- Sakamoto, A.
- Shaw, T.M.
- Shimooka, Y.
- Shobha, H.
- Simonyi, E.
- Widodo, J.
- Grill, A.
- Hannon, R.
- Lane, M.
- Nye, H.
- Spooner, T.
- Wisnieff, R.
- Ivers, T.
2006
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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 37th Annual (Cat. No.99CH36296), 1999, p.144-153
1999
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2000 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.00CH37104), 2000, p.12-13
2000
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