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IEEE transactions on reliability, 2002-03, Vol.51 (1), p.111-122
2002
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IEEE transactions on reliability, 2002-03, Vol.51 (1), p.63-75
2002
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2005-11, Vol.24 (11), p.1748-1759
2005
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Proceedings - International Test Conference, 2000, p.985-994
2000
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2001-04, Vol.20 (4), p.545-555
2001
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IEEE transactions on reliability, 2002-12, Vol.51 (4), p.392-402
2002
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2005-02, Vol.24 (2), p.264-270
2005
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IEEE transactions on computers, 2002-05, Vol.51 (5), p.498-510
2002
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IEEE transactions on reliability, 2000-09, Vol.49 (3), p.285-295
2000
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IEEE transactions on computers, 2004-11, Vol.53 (11), p.1483-1492
2004
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22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings, 2004, p.43-48
2004
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IEEE transactions on computers, 2002-02, Vol.51 (2), p.180-199
2002
Volltextzugriff (PDF)
2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-9
2008
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IEEE International Conference on Test, 2005, 2005, p.7 pp.-777
2005
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Computer (Long Beach, Calif.), 1990-07, Vol.23 (7), p.84-88
1990
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IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1997-07, Vol.16 (7), p.783-789
1997
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IEEE design & test of computers, 2004-05, Vol.21 (3), p.228-240
2004
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Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.358-366
2001
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2008 IEEE International Test Conference, 2008, p.1-8
2008
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2007 IEEE International Test Conference, 2007, p.1-10
2007
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Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.659-668
1996
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24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, p.156-157
2006
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Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159), 2000, p.336-342
2000
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Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.1049-1058
2001
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IEEE transactions on computers, 1988-02, Vol.37 (2), p.160-174
1988
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