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2010
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Microelectronic engineering, 2009-07, Vol.86 (7), p.1796-1803
2009
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2012
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Semiconductor science and technology, 2011-02, Vol.26 (2), p.025008
2011
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Thin solid films, 2017-06, Vol.631, p.23-28
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Revue de l'Electricité et de l'Electronique, 2001, Vol.- (1), p.62
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Journal of crystal growth, 2003-07, Vol.255 (1), p.8-18
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Materials science forum, 2003-09, Vol.433-436, p.349-352
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Materials science forum, 2002-04, Vol.389-393, p.601-604
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Materials science forum, 2001-01, Vol.353-356, p.393-396
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2002
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Microelectronic engineering, 2009-09, Vol.86 (7-9), p.1796-1803
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Electronic Imaging, 2020-01, Vol.32 (7), p.144-1-144-7
2020
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Materials science forum, 2001-10, Vol.389-393 (1), p.601-604
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Proceedings of 2010 International Symposium on VLSI Technology, System and Application, 2010, p.54-55
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2014 IEEE International Electron Devices Meeting, 2014, p.22.4.1-22.4.4
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2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.453-456
2007
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2008 IEEE International Electron Devices Meeting, 2008, p.1-4
2008
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2009 IEEE International Memory Workshop, 2009, p.1-4
2009
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2008 Joint Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop and International Conference on Memory Technology and Design, 2008, p.64-67
2008
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American journal of respiratory and critical care medicine, 1997-11, Vol.156 (5), p.1501-1507
1997
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