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Standardization and Metrology for Efficiency and Reliability in Microbeam Analysis - No pain, no gain
Microscopy and microanalysis, 2015-08, Vol.21 (S3), p.1477-1478
2015
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Determination of the k-Values of Copper-Gold Alloys with ED- and WD-EPMA - Results of an Inter-Laboratory Comparison
Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.730-731
2014
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Current Status of ISO/TC202 - Microbeam Analysis
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.490-491
2017
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Characterization of SiGe Films for Use as a National Institute of Standards and Technology Microanalysis Reference Material (RM 8905)
Microscopy and microanalysis, 2010-02, Vol.16 (1), p.1-12
2010
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High-accuracy determination of the dependence of the photoluminescence emission energy on alloy composition in AlxGa1−xAs films
Journal of applied physics, 2003-04, Vol.93 (7), p.3747-3759
2003
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Fifty Years of Electron Probe Microanalysis: A Celebration Honoring Raimond Castaing-Introduction
Microscopy and microanalysis, 2001-03, Vol.7 (2), p.93-93
2001
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Microbeam Analysis Society Presidential Message
Microscopy and microanalysis, 1998-02, Vol.4 (1), p.75-77
1998
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Heterogeneity Evaluation of Research Materials for Microanalysis Standards Certification
Microscopy and microanalysis, 2004-08, Vol.10 (4), p.491-506
2004
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Compositional Mapping with the Electron Probe Microanalyzer: Part I
Analytical chemistry (Washington), 1990-11, Vol.62 (22), p.1159A-1166A
1990
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Characteristics of aerosols produced by the spark discharge
Analytical chemistry (Washington), 1989-09, Vol.61 (17), p.1826-1833
1989
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An EPMA Study on KNbO3 and NaNbO3 Single Crystals – Potential Reference Materials for Quantitative Microanalysis
Mikrochimica acta (1966), 2004-04, Vol.145 (1-4), p.203-208
2004
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Strategies for background subtraction in electron probe microanalysis/x-ray compositional mapping
Analytical chemistry (Washington), 1989-08, Vol.61 (15), p.1612-1618
1989
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Foreword
Journal of research of the National Institute of Standards and Technology, 2002-11, Vol.107 (6), p.v
2002
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Report from the NIST-MAS Workshop on “The Accuracy Barrier in Quantitative EPMA and the Role of Standards”
Microscopy and microanalysis, 2003-08, Vol.9 (S02), p.528-529
2003
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Compositional mapping with the electron probe microanalyzer: part I
Analytical chemistry (Washington), 1990-11, Vol.62 (22), p.1159A-1166A
1990
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Compositional mapping with the electron probe microanalyzer: Part II
Analytical chemistry (Washington), 1990-12, Vol.62 (24), p.1245A-1254A
1990
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Dye Impregnation Method for Revealing Machining Crack Geometry
Journal of the American Ceramic Society, 2001-04, Vol.84 (4), p.795-800
2001
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Quantitative Electron Probe Microanalysis of Bi-Sr-Ca-Cu-O High Tc Superconductors Using Energy- and Wavelength-Dispersive Spectrometry
Microscopy and microanalysis, 1997-11, Vol.3 (6), p.504-511
1997
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A New NIST SRM® for Microanalysis and X-ray Fluorescence, TiAl(NbW) Alloy
Microscopy and microanalysis, 2004-08, Vol.10 (S02), p.926-927
2004
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Quantitative Electron Probe Microanalysis of Bi-Sr-Ca-Cu-O High T c Superconductors Using Energy- and Wavelength-Dispersive Spectrometry
Microscopy and microanalysis, 1997-11, Vol.3 (6), p.504-511
1997
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Kurt Francis Joseph Heinrich
Journal of research of the National Institute of Standards and Technology, 2002-11, Vol.107 (6), p.iii
2002
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A Simple Method For Determining Optimum Corrections For High-Accuracy Epma In Difficult Chemical Systems
Microscopy and microanalysis, 2002-08, Vol.8 (S02), p.438-439
2002
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Phase Identification in Heated Thermal Barrier Coatings using Microbeam X-ray Diffraction Combined with Quantitative X-ray Mapping
MRS proceedings, 2000, Vol.645, Article MM8.4.1
2000
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Microstructural Characterization of Yttria-Doped Zirconia Coatings with Electron Microprobe Wavelength Dispersive Compositional Mapping
MRS proceedings, 2000, Vol.645, Article M9.7.1
2000
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A Study of An Yttria-Doped Zirconia Coating With Electron Microprobe Wavelength Dispersive Compositional Mapping
Microscopy and microanalysis, 1997-08, Vol.3 (S2), p.897-898
1997
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