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The electronic age: energy-dispersive X-ray analysis and other modern techniques to the present and beyond

Powder diffraction, 2014-06, Vol.29 (2), p.127-132

Mantler, Michael

2014

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X-ray fluorescence spectrometry in art and archaeology

X-ray spectrometry, 2000-01, Vol.29 (1), p.3-17

2000

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Analysis of art objects and other delicate samples: Is XRF really nondestructive?

Powder diffraction, 2004-03, Vol.19 (1), p.16-19

2004

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Experimental verification of the individual energy dependencies of the partial L-shell photoionization cross sections of Pd and Mo

Physical review letters, 2014-10, Vol.113 (16), p.163001-163001, Article 163001

2014

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A new methodical approach based on Compton scattering and XRF: quantitative analysis of CO2 and loss on ignition in quicklime

Powder diffraction, 2015-06, Vol.30 (2), p.113-116

2015

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A new methodical approach based on Compton scattering and XRF: quantitative analysis of CO 2 and loss on ignition in quicklime

Powder diffraction, 2015-06, Vol.30 (2), p.113-116

2015

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A new methodical approach based on Compton scattering and XRF: quantitative analysis of CO sub(2) and loss on ignition in quicklime

Powder diffraction, 2015-06, Vol.30 (2), p.113-116

2015

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Measuring and Interpreting X-ray Fluorescence from Planetary Surfaces

Analytical chemistry (Washington), 2008-11, Vol.80 (22), p.8398-8405

2008

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Preface

Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 2003-04, Vol.58 (4), p.585-587

2003

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Röntgenfluoreszenzanalytische Bestimmung von Massenschwächungskoeffizienten

Sechstes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Wien, 23. bis 25. Oktober 1972, p.353-363

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Software for XRF

Advances in X-ray Analysis, 1993, Vol.37, p.13-20

Mantler, Michael

1993

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Quantitative XRFA of Light Elements by the Fundamental Parameter Method

Advances in X-ray Analysis, 1992, Vol.36, p.27-33

Mantler, Michael

1992

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Determination of Layer Thicknesses by Total Electron Yield Measurements-Substrate Method

X-ray spectrometry, 1997-01, Vol.26 (1), p.28-36

1997

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Lama III - A Computer Program for Quantitative XRFA of Bulk Specimens and Thin Film Layers

Advances in X-ray Analysis, 1984, Vol.27, p.433-440

Mantler, Michael

1984

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Advances in Fundamental-Parameter Methods for Quantitative XRFA

Advances in X-ray Analysis, 1986, Vol.30, p.97-104

Mantler, Michael

1986

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A New Method for Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis of Mixtures of Oxides or Other Compounds by Empirical Parameter Methods

Advances in X-ray Analysis, 1982, Vol.26, p.351-354

Mantler, Michael

1982

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Die sekundäranregung bei der Röntgenfluoreszenzanalyse ebener dünner schichten

Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 1971-12, Vol.26 (12), p.747-759

1971

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Über die berücksichtigung von streuanteilen bei der messung von röntgenfluoreszenzintensitäten

Spectrochimica acta. Part B: Atomic spectroscopy, 1971-12, Vol.26 (12), p.733-746

1971

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Application of the Fundamental Parameter Method to Analyses of Light Element Compounds Considering the Scattering Effects

Advances in X-ray Analysis, 1992, Vol.36, p.47-57

1992

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A New High-Temperature Camera for Diffraction Studies Above 2200°C

Advances in X-ray Analysis, 1986, Vol.30, p.413-420

1986

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Quantitative surface analysis performed with an imaging photoelectron spectrometer

Mikrochimica acta (1966), 1990-01, Vol.101 (1-6), p.63-69

1990

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Lama I - A General Fortrah Program for Quantitative X-ray Fluorescence Analysis

Advances in X-ray Analysis, 1976, Vol.20, p.515-528

1976

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Measurements of the Thermal Expansion Of Materials with High Melting Points by X-Ray Diffraction

Advances in X-ray Analysis, 1993, Vol.37, p.441-447

1993

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Analysis Of Boron And Other Light Elements in Glasses by the Fundamental Parameter Method

Advances in X-ray Analysis, 1993, Vol.37, p.677-683

1993

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A New Instrument for the Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis of Objects of Art and Archaeology

Advances in X-ray Analysis, 1991, Vol.35 (B), p.1157-1163

1991

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