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IEEE transactions on electron devices, 2014-09, Vol.61 (9), p.3047-3053
2014
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2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013, p.CD.2.1-CD.2.3
2013
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2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017, p.5C-3.1-5C-3.7
2017
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2012 28th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2012, p.173-181
2012
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2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.EL.4.1-EL.4.6
2011
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2009 25th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2009, p.50-54
2009
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Meeting abstracts (Electrochemical Society), 2018-04, Vol.MA2018-01 (23), p.1418-1418
2018
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