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Adaptive architecture for CMOS BICS

Electronics letters, 1999-08, Vol.35 (17), p.1407-1409

1999

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Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam

Microelectronic engineering, 1996, Vol.31 (1), p.79-86

1996

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An Analog Circuit Fault Characterization Methodology

Journal of electronic testing, 2005-04, Vol.21 (2), p.127-134

2005

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Using artificial neural networks or Lagrange interpolation to characterize the faults in an analog circuit: an experimental study

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 1999-10, Vol.48 (5), p.932-938

1999

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Off chip monitors and built in current sensors for analogue and mixed signal testing

Proceedings 1998 IEEE International Workshop on IDDQ Testing (Cat. No.98EX232), 1998, p.59-63

1998

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An improved CMOS BICS for on-line testing

Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop (Cat. No.PR00646), 2000, p.100-103

2000

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Diagnosis of multifaults in analogue circuits using multilayer perceptrons

IEE proceedings. Circuits, devices, and systems, 1997, Vol.144 (3), p.149

1997

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3.3 V CMOS built-in current sensor

Electronics letters, 1997, Vol.33 (5), p.345

1997

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A new laser system for X-rays flashes sensitivity evaluation

Proceedings Seventh International On-Line Testing Workshop, 2001, p.111-113

2001

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Multiple fault diagnosis in analogue circuits using time domain response features and multilayer perceptrons

IEE proceedings. Circuits, devices, and systems, 1998, Vol.145 (4), p.213

1998

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On-line CMOS BICS: an experimental study

Digest of Papers IEEE International Workshop on IDDQ Testing, 1997, p.85-89

1997

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On chip I/sub DDX/ sensor

Digest of Papers 1996 IEEE International Workshop on IDDQ Testing, 1996, p.64-67

1996

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O05: Identification de déviants positifs au sein du projet Opticourses : des achats alimentaires équilibrés malgré un petit budget

Nutrition clinique et métabolisme, 2014-12, Vol.28, p.S31-S31

2014

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Adaptative Architecture for CMOS BICS

Electronics letters, 1999, Vol.35

1999

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