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2003
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Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003, 2003, p.4-4
2003
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IEEE design & test of computers, 2002-01, Vol.19 (1), p.76-83
2002
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IEEE design & test of computers, 2004-05, Vol.21 (3), p.177-182
2004
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IEEE design & test of computers, 2009-03, Vol.26 (2), p.20-29
2009
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2011 IEEE International Solid-State Circuits Conference, 2011, p.31-31
2011
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 43rd annual conference on Design automation; 24-28 July 2006, 2006, p.77-78
2006
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2007 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, 2007, p.1-4
2007
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Proceedings of Technical Program of 2012 VLSI Design, Automation and Test, 2012, p.1-2
2012
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe, 2001, p.694-695
2001
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2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference, 2006, p.77-78
2006
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe, 2007
2007
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 40th conference on Design automation, 2003, p.354-355
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1989 Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 1989, p.19.7/1-19.7/5
1989
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Euro ASIC '91, 1991, p.278-283
1991
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Applied physics letters, 1973-02, Vol.22 (4), p.162-164
1973
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1991 21st European Microwave Conference, 1991, Vol.1, p.93-98
1991
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1987 IEEE GaAs IC Symposium Technical Digest, 1987, p.107-107
1987
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IEEE spectrum, 1980, Vol.17 (3), p.54-56
1980
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1973 3rd European Microwave Conference, 1973, Vol.1, p.1-4
1973
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