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Time-dependent behaviour of circular steel tube confined reinforced concrete (STCRC) slender columns
Engineering structures, 2023-06, Vol.284, p.115949, Article 115949
2023
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A Novel Random Telegraph Signal Method to Study Program/Erase Charge Lateral Spread and Retention Loss in a SONOS Flash Memory
IEEE transactions on electron devices, 2011-03, Vol.58 (3), p.623-630
2011
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Excess low-frequency noise in ultrathin oxide n-MOSFETs arising from valence-band electron tunneling
IEEE transactions on electron devices, 2005-09, Vol.52 (9), p.2061-2066
2005
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Time-dependent responses and modeling of circular steel tube confined reinforced concrete (STCRC) accounting for partial exposure condition
Engineering structures, 2025-01, Vol.322, p.119068, Article 119068
2025
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Intrinsic hot-carrier degradation of nMOSFETs by decoupling PBTI component in 28nm high-k/metal gate stacks
2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.XT.13.1-XT.13.4
2012
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20nm gate bulk-finFET SONOS flash
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest, 2005, p.154-157
2005
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Bipolar Charge Trapping Induced Anomalous Negative Bias-Temperature Instability in HfSiON Gate Dielectric pMOSFETs
IEEE transactions on device and materials reliability, 2007-12, Vol.7 (4), p.518-523
2007
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Effect of ionizing radiation on transcription of colorectal cancer MDR1 gene of HCT-8 cells
Asian Pacific journal of tropical medicine, 2013-05, Vol.6 (5), p.407-409
2013
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An optimization framework for hot-rolled strip crown control based on model-driven digital twin
Journal of iron and steel research, international, 2024-10
2024
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