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2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2012, p.586-589
2012
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The 16th CSI International Symposium on Computer Architecture and Digital Systems (CADS 2012), 2012, p.115-120
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Proceedings 18th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003, p.485-492
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Journal of electronic testing, 2004-10, Vol.20 (5), p.553-567
2004
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