Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2013-07, Vol.32 (7), p.1100-1109
2013
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2015-09, Vol.23 (9), p.1628-1639
2015
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2014-05, Vol.33 (5), p.763-773
2014
Volltextzugriff (PDF)

Fault-tolerant 3D clock network
2011 48th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2011, p.645-651
2011
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the Conference on Design, Automation and Test in Europe, 2010, p.1474-1479
2010
Volltextzugriff (PDF)

2012 7th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT), 2012, p.133-136
2012
Volltextzugriff (PDF)


Proceedings of 2011 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, 2011, p.1-4
2011
Volltextzugriff (PDF)


2011 International SoC Design Conference, 2011, p.127-130
2011
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of 2010 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, 2010, p.335-338
2010
Volltextzugriff (PDF)

2011 6th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT), 2011, p.238-241
2011
Volltextzugriff (PDF)

The 2010 International Conference on Green Circuits and Systems, 2010, p.589-594
2010
Volltextzugriff (PDF)

2011 Design, Automation & Test in Europe, 2011, p.1-6
2011
Volltextzugriff (PDF)

2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010), 2010, p.1474-1479
2010
Volltextzugriff (PDF)


2010 12th IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems, 2010, p.1-6
2010
Volltextzugriff (PDF)