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2006 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2006, p.123-126
2006
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2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479), 2000, p.61-64
2000
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IEEE 1997 Annual Report Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, 1997, Vol.1, p.150-153 vol.1
1997
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Proceedings of the 1997 6th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 1997, p.12-16
1997
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Optics communications, 2014-12, Vol.333, p.175-181
2014
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Journal of non-crystalline solids, 2012-08, Vol.358 (15), p.1840-1845
2012
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Optics communications, 2014-09, Vol.326, p.144-149
2014
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