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2023
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Microelectronic engineering, 2014-05, Vol.120, p.85-89
2014
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-7
2023
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.8C.2-1-8C.2-7
2022
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-7
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
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Digestive and liver disease, 2008-02, Vol.40 (2), p.132-139
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Annals of the rheumatic diseases, 2013-06, Vol.72 (Suppl 3), p.A686-A686
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A combined modelling approach to design test structures to study thermomigration in Cu interconnects
2022
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Reumatismo, 2012-03, Vol.64 (1), p.40-43
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.23.4.1-23.4.4
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Reumatismo, 2009-01, Vol.61 (1), p.15
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2020 IEEE 70th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2020, p.548-553
2020
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2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010, p.591-598
2010
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