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IEEE transactions on electron devices, 2008-08, Vol.55 (8), p.1961-1969
2008
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IEEE transactions on power electronics, 2009-01, Vol.24 (1), p.271-277
2009
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Oxide Reliability of SiC MOS Devices
2008 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2008, p.141-144
2008
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2008 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's, 2008, p.229-232
2008
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Materials science forum, 2013-01, Vol.740-742, p.994-997
2013
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IEEE transactions on electron devices, 2008, Vol.55 (8), p.1961-1969
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Materials science forum, 2012-05, Vol.717-720, p.793-796
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Materials science forum, 2011, Vol.679-680, p.354-357
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Materials science forum, 2009-01, Vol.615-617, p.813-816
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2010-12, Vol.10 (4), p.418-426
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Frontiers of business research in China, 2007-07, Vol.1 (3), p.456-481
2007
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IMAPS other content, 2014-01, Vol.2014 (HITEC), p.72-75
2014
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