Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
Proceedings International Test Conference 1996. Test and Design Validity, 1996, p.849-856
1996
Volltextzugriff (PDF)


The economics of scan design
Proceedings. 'Meeting the Tests of Time'., International Test Conference, 1989, p.869-874
1989
Volltextzugriff (PDF)

IEEE journal of solid-state circuits, 1990-04, Vol.25 (2), p.474-481
1990
Volltextzugriff (PDF)

BiCMOS logic testing
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 1994-06, Vol.2 (2), p.241-248
1994
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC), 1995, p.157-166
1995
Volltextzugriff (PDF)

IEEE/SEMI Conference on Advanced Semiconductor Manufacturing Workshop, 1990, p.3-9
1990
Volltextzugriff (PDF)

Designing UltraSparc for testability
IEEE design & test of computers, 1997-01, Vol.14 (1), p.10-17
1997
Volltextzugriff (PDF)

1989 Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 1989, p.22.6/1-22.6/4
1989
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the IEEE 1991 Custom Integrated Circuits Conference, 1991, p.17.2/1-17.2/4
1991
Volltextzugriff (PDF)

IEEE design & test of computers, 1997-01, Vol.14 (1), p.8-9
1997
Volltextzugriff (PDF)

COMPCON Spring '92 - 37th IEEE International, 1992, p.440-445
1992
Volltextzugriff (PDF)

[1992] Proceedings The European Conference on Design Automation, 1992, p.549-553
1992
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings European Design and Test Conference. ED & TC 97, 1997, p.494-500
1997
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings., 1990 IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors, 1990, p.294-297
1990
Volltextzugriff (PDF)

ASIC testing upgraded
IEEE spectrum, 1992-05, Vol.29 (5), p.26-29
1992
Volltextzugriff (PDF)



IEEE transactions on medical imaging, 2006-10, Vol.25 (10), p.1249-1257
2006
Volltextzugriff (PDF)

Chemical physics letters, 2003-01, Vol.367 (1), p.150-156
2003
Volltextzugriff (PDF)

Physical review letters, 2005-05, Vol.94 (17), p.175002.1-175002.4, Article 175002
2005
Volltextzugriff (PDF)

2007 4th IEEE International Symposium on Biomedical Imaging: From Nano to Macro, 2007, Vol.4, p.209-212
2007
Volltextzugriff (PDF)


37th Annual Hawaii International Conference on System Sciences, 2004. Proceedings of the, 2004, p.8 pp.
2004
Volltextzugriff (PDF)

Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n